設(shè)備特點(diǎn)：
多CHR白光共聚焦傳感器，采樣頻率4kHz – 20kHz
可實(shí)現(xiàn)組合式測(cè)量
*大315mm x 315mm掃描范圍
分辨率低至3nm，測(cè)量范圍*高可達(dá)25mm
適用領(lǐng)域：厚膜印刷電路，混合電路(Hybrid Circuit)、BGA、TAB 及 FLIP/CHIP厚度測(cè)量，PCB基板形變量，半導(dǎo)體元件及晶圓平整度、曲翹度，銅箔厚度及粗糙度，封裝凸塊檢測(cè)。
應(yīng)用案例：
1、LED器件的幾何形狀測(cè)量
2、晶圓的平整度測(cè)量
3、光學(xué)器件的表面粗糙度測(cè)量